計測器

パターンジェネレータ/エラーアナライザ

テクトロニクス BA1600BitAlyzer BAシリーズ

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BA1600 パターンジェネレータ/エラーアナライザ テクトロニクス

商品説明

・最高1.6Gbpsのパターン生成/エラー検出機能により、デジタル通信シグナリング・システムの迅速で正確な特性評価が可能
・PRBSパターンまたは8Mビットのユーザ定義パターンにより、汎用性の高いデバッグまたは任意のデジタル・シグナリングの組み合わせが検証可能
・内蔵のクロック・ソースによる非常に正確なタイミング
・設定可能な振幅、オフセット、ロジック・スレッショルド、ターミネーションによるシグナリング変動により、レシーバ設計のストレス・テストが可能
・差動およびシングルエンドのI/Oにより、さまざまな通信 バス規格での接続が可能
・BitAlyzerのError AnalysisによりBER性能の限界が すばやく理解でき、デターミニスティック対ランダム・エラーの評価、詳細なパターン依存エラー解析、エラー・バースト解析、エラーフリー間隔解析が可能
・自動測定によるアイ・ダイアグラム表示と高速アイ・マスク・テストにより、迅速なDUTのシグナル・インテグリティ解析が可能
・ANSIのジッタ測定(RJ、DJ、TJ)による、BER 10-12 のトータル・ジッタにおけるランダム・ジッタとデターミニスティック・ジッタの影響の測定が可能
・Qファクタの測定により、BERに関する垂直アイ開口をすばやく解析可能
・自動マスク生成とBER輪郭により、アイ・ダイアグラムの開口をBERの関数として測定、表示可能
・FEC(Forward Error Correction)エミュレーションによる、通信システム設計の内蔵FEC性能検証
・エラー・マッピング機能により、シグナリング・エラーの原因と場所の特定のためのデバッグ・サポート

商品スペック

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【周波数レンジ】100kHz~1.6GHz
【クロック/データ出力】振幅:70m~2V、差動、コネクタ:SMA
【クロック/データ入力】振幅:-2~+4V、差動/シングルエンド、コネクタ:SMA
【主な測定項目】エラー解析/アイ・ダイアグラム/マスク・テスト/ジッタ解析/Q値解析

オプション

  • 物理レイヤ・テスト OpPL
  • 販売時参考価格:ー
  • MAP(エラー・マッピング解析)/ECC(エラー符号化エミュレーション解析)機能

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