計測器

ブローシャを見て500ポイントゲット
BA1600 パターンジェネレータ/エラーアナライザ テクトロニクス
販売開始
販売状況
メーカー製造終了
販売開始時参考価格
サポート状況
サポート中
閲覧にあたっての注意事項
  • 販売開始時参考価格は発売当時の価格であり、現在の価格とは異なります。
    詳細はメーカへお問合せください。また、オプション構成によっても異なります。
  • 販売・サポートは登録時のものであり、現在の状況と異なる場合がございます。
    実際の状況はメーカーにお問合せください。
  • レンタル品は在庫が無く、ご希望に添えない場合がございます。予めご了承願います。
  • 中古品は既に在庫が無く、ご希望に添えない場合がございます。予めご了承願います。
  • 画像は同一シリーズのものを掲載している場合があります。

商品説明

・最高1.6Gbpsのパターン生成/エラー検出機能により、デジタル通信シグナリング・システムの迅速で正確な特性評価が可能
・PRBSパターンまたは8Mビットのユーザ定義パターンにより、汎用性の高いデバッグまたは任意のデジタル・シグナリングの組み合わせが検証可能
・内蔵のクロック・ソースによる非常に正確なタイミング
・設定可能な振幅、オフセット、ロジック・スレッショルド、ターミネーションによるシグナリング変動により、レシーバ設計のストレス・テストが可能
・差動およびシングルエンドのI/Oにより、さまざまな通信 バス規格での接続が可能
・BitAlyzerのError AnalysisによりBER性能の限界が すばやく理解でき、デターミニスティック対ランダム・エラーの評価、詳細なパターン依存エラー解析、エラー・バースト解析、エラーフリー間隔解析が可能
・自動測定によるアイ・ダイアグラム表示と高速アイ・マスク・テストにより、迅速なDUTのシグナル・インテグリティ解析が可能
・ANSIのジッタ測定(RJ、DJ、TJ)による、BER 10-12 のトータル・ジッタにおけるランダム・ジッタとデターミニスティック・ジッタの影響の測定が可能
・Qファクタの測定により、BERに関する垂直アイ開口をすばやく解析可能
・自動マスク生成とBER輪郭により、アイ・ダイアグラムの開口をBERの関数として測定、表示可能
・FEC(Forward Error Correction)エミュレーションによる、通信システム設計の内蔵FEC性能検証
・エラー・マッピング機能により、シグナリング・エラーの原因と場所の特定のためのデバッグ・サポート

商品スペック

>>もっと見る

【周波数レンジ】100kHz~1.6GHz
【クロック/データ出力】振幅:70m~2V、差動、コネクタ:SMA
【クロック/データ入力】振幅:-2~+4V、差動/シングルエンド、コネクタ:SMA
【主な測定項目】エラー解析/アイ・ダイアグラム/マスク・テスト/ジッタ解析/Q値解析

オプション

  • 物理レイヤ・テスト OpPL
  • 販売開始時参考価格:ー
  • MAP(エラー・マッピング解析)/ECC(エラー符号化エミュレーション解析)機能

関連資料ダウンロード

プレミアム会員(無料)とメルマガ購読の登録が必要です。

関連資料をダウンロードいただくには
プレミアム会員(無料)とメルマガ購読の登録が必要です。
【プレミアム会員の方】 ログイン後、プロフィール編集画面よりメルマガ購読欄を
「購読する」に変更をお願いします。
【メルマガ会員の方】 ログイン後、プレミアム会員への移行&メルマガ購読の
手続きをお願いします。
【非会員の方】 プレミアム会員への登録&メルマガ購読の手続きをお願いします。

レビュー

この商品には現在レビューがありません。
レビュー投稿へのご協力をよろしくお願いいたします。

その他の誤り率測定器

サービス紹介

・動画で学べる「計測入門講座 Isee!」を掲載開始! 視聴は こちら

・計測・測定に関する用語全般を収録した TechEyesOnline の用語集をリリースしました「計測関連用語集

・メルマガ購読でTechEyesOnline掲載記事のPDFダウンロードサービスが受けられます。記事一覧は こちら

関連記事