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スイープテストシステム

形名:Swept Test System
Swept Test System スイープテストシステム santec
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商品説明

SantecのSwept Test Systemは高速、高精度および高分解能で光コンポーネントやモジュールのWDL/PDL特性測定が可能で、生産ラインやR&Dなど幅広い分野でご利用いただけます。パワーモニタ出力を搭載したsantec TSLシリーズからの出力パワーモニタとDUTを透過した光パワーを同時に測定してリアルタイムにリファレンスを取得することで高精度にWDL/PDL特性を測定できます。Swept Test Systemはsantec波長可変光源 TSLシリーズ、パワーメータ(MPM-210H)、偏波コントローラ(PCU-110)および専用ソフトウェアにて構築されます。

商品スペック

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TSL-570の仕様に準ずる
【波長範囲】1240~1680 nm (O, ES, SCL, CL, U-bandから選択可能)
【最大パワー】+13 dBm
【波長掃引速度】200 nm/s
【波長精度】±2.1 pm (Type Pモデル)
【波長分解能】0.1 nm

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