・50/100 MHz; 200 MHz(MUX)クロックレート・50/100 Mbps; 200 Mbps(MUX)データレート
・最大640個のデジタルI / Oピン[テストヘッド2]
・16/32(オプション)MWベクトルメモリ
・16/32(オプション)MWパターン命令メモリ
・ピンごとのタイミング/ PPMU /周波数測定
・スキャンチェーンごとに1Gの深さまで機能をスキャンします
・メモリテスト用のALPGオプション
・最大40本の高電圧ピン
・最大8〜32個の16ビットADDAチャネルオプション
・32の高性能DPSチャネル
・エッジ配置精度±300ps
・32 CHHDADDAミックスドシグナルオプション
・8 CHAWGおよびデジタイザーASOミックスドシグナルオーディオバンドテストオプション
・MPVIアナログオプションの場合は60Vで40Aパルス*
・VI45アナログオプション用8〜32-CH /ボード
・PVI100アナログオプション用2〜8-CH /ボード
・サードパーティのPXI計測器用のMRXオプション
・MicrosoftWindows®XPOS
・C ++およびGUIプログラミングインターフェイス
・CRISP、直感的なソフトウェアツールの完全なスイート
・他のプラットフォーム用のテストプログラムとパターンコンバータ
・他のテスターのDIBとプローブカードを直接受け入れる
・STDFデータ出力をサポート
・空冷式の小型フットプリントテスターインテストヘッド設計