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商品説明
・SMD型デバイス用試験システム・対応サイズ:1.0mm x 0.6mm ~ 6.0 x 6.0 mm、高さ≦3mm
・テスト&パッキング速度:600ppm~1500ppm
・レアショート判定機能
エリア
ラプラシアン
Δピークレシオ
Δレゾナントエリア
・フィクスチャ(治具)寿命を延ばすコンタクトチェック機能搭載
・自動検査システムの要件に基づき2~5台のテストステーションを提供
・落下するインダクタを排除するインデックスディスク設計
・4端子測定法テスト設計
・各試験器ごとに独立したNG(No Good)製品の排出ボックスを保有
・ソフトウェアによるリアルタイム製品品質モニタリング
・多言語対応:中国語/英語/日本語
・高速、安定、安全なシステム設計
・操作選択:単発動作、全自動操作、リファレンスデータサンプリングから操作を選択可能。インパルス試験機1台~複数台で測定可能。
・状態表示:試料満杯時、不足時にエラー表示
・計数機能:Counter機能あり
・ソフトウエアにはパラメータ設定機能あり(HMI/PLCにインパルス試験機のパラメータ設定機能なし)
商品スペック
>>もっと見る【対応サイズ】1.0mm x 0.6mm ~ 6.0 x 6.0 mm、高さ≦3mm
【テスト&パッキング速度】600ppm~1500ppm
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