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商品説明
SCT1010ZZはIGBT素子の短絡時におけるエネルギー耐量を試験します。付属のソフトウェアとの連動によりオシロスコープ波形からエネルギー量を計算します。また安全性を考慮し、D.U.T.の破壊防止機能も盛り込まれています。
商品スペック
>>もっと見る【MEASURABLE DEVICES】N-IGBT
【BIAS SETTING RANGE】VDD:10V~999V(1V STEP)
【BIAS SETTING RANGE】ICL:10A~999A(1A STEP)
【BIAS SETTING RANGE】VGF:0V~+39.9V(0.1V STEP)
【BIAS SETTING RANGE】VGR:0V~+39.9V(0.1V STEP)
【BIAS SETTING RANGE】TON:2.0μs~999.9μs(0.1μs STEP)
【TEST ITEMS】OPEN/SHORT
【BIN INDICATION】PASS, POST-FAIL, FAIL, PRE-FAIL
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