CV-30KB CVサージテスタキャッツ電子設計(CATS) | 計測器

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キャッツ電子設計(CATS)

CVサージテスタ

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形名：CV-30KB

キャッツ電子設計(CATS) 半導体測定器 CV-30KB

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販売開始: －

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販売開始時参考価格: －

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商品説明

CV-30KBは超高電圧30kVでのESD試験を行い、その後のリーク電流測定や耐圧測定で素子の劣化状態を確認するテスターです。リーク測定はサージパルス印加前と印加後に測定し、変化の推移より劣化の有無を確認します。

商品スペック

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≪ESD TEST≫
【CAPACITANCE】100pF, 200pF, 300pF, 500pF, 1000pF, 2000pF
【RESISTOR】0Ω, 100Ω, 150Ω, 200Ω, 300Ω, 500Ω, 1kΩ, 1.5kΩ
【PULSE VOLTAGE】0.01kV～6.00kV(10V STEP)
【PULSE VOLTAGE】6.01kV～30.0kV(100V STEP)
【PULSE】1～99
【INTERVAL TIME】1.0sec～9.9sec
≪IL TEST≫
【VL(Forcing)】1V～3.00kV
【IL(Detect)】0.0nA～9.99mA
【LIMIT GATE】0.0nA～9.99mA
≪VR TEST≫
【IR(Forcing)】10μA～9.99mA
【VR(Detect)】0V～3.00kV
【LIMIT GATE】0V～3.00kV