- 販売開始
- -
- 販売状況
- メーカー製造終了
- 販売開始時参考価格
- -
- サポート状況
- サポート終了
商品説明
概要LTE FDD測定アプリケーションは、Keysight Xシリーズの25種類を超える測定アプリケーションが含まれた共通ライブラリの中の1つです。
Xシリーズは、測定システム、測定、ソフトウェアを含む、信号解析のための革新的な手法です。
このアプリケーションを使用すれば、Xシリーズ シグナル・アナライザを規格に準拠したトランスミッタ・テスタとして使用することができるので、RFコンフォーマンス測定を実行して、LTE FDD基地局やユーザ機器をデザイン/評価/製造することができます。
この測定アプリケーションは、3GPP規格に正確に準拠しているので、デザインや製造における最先端の課題に対応できます。
RFトランスミッタ・テスト
・ 特に移動機コンポーネントの開発やホーム基地局(フェムトセル)の製造における、EXAエコノミー・シグナル・アナライザの低コストの代替製品
・ ダウンリンク・チャネル/信号の自動検出により、測定セットアップを簡素化できます。
eNBコンフォーマンス・テストでは、3GPP TS 36.141コンフォーマンス・ドキュメントに基づいてE-TMプリセットをリコールすることにより、測定を容易に実行できます。
・ すべてのLTEチャネル帯域幅とすべてのチャネル/信号の測定を行って、リソース・ブロック/副搬送波/スロット/シンボル別に測定結果を表示することができます。
カラー・コード化とマーカ連動によるグラフィック表示により、問題をすばやく見つけて、トラブルシューティングを迅速に行うことができます。
・ 製造段階では、「コンフォーマンスEVM」測定により、従来のEVM測定に比べて最大2倍速度が向上します。
■主な特長と仕様
信号解析
・ 3GPP Release 9規格に準拠したLTE TDD
・ 1つのオプションで、ダウンリンク(OFDMA)とアップリンク(SC-FDMA)のRFトランスミッタ測定が可能
・ アップリンク/ダウンリンク用トランスポート層チャネルのデコード
・ CXAシグナル・アナライザ内で実行(最高7.5 GHzモデル)
測定
・ 基地局(eNB):EVM、周波数誤差、DL RSパワー、トランスミッタの分岐間の時間調整、RSTP、OSTP、SEM、ACLRなど
・ ユーザ機器(UE):EVM、周波数誤差、I/Qオフセット、スペクトラム・フラットネス、帯域内エミッション、トランスミット・オン/オフ・パワー、SEM、ACLRなど
・ トランスポート層チャネル・デコーディング:デマッピング/デインタリーブ/デスクランブル/デレート・マッチング/デコードされたデータへのアクセス
・ 複数のカラー・コード化された結果の表示:EVM対副搬送波、EVM対シンボル、EVM対スロット、EVM対リソース・ブロック(RB)、検出された割り当て(副搬送波対シンボル)、エラー・サマリ・テーブル、フレーム・サマリ・テーブルなど
性能
・ 残留EVM、5 MHzダウンリンク信号:0.63 %(公称値)
・ ACLR、5 MHz E-UTRA隣接チャネル:66.8 dB(公称値)
・ 絶対パワー確度:±0.61 dB
・ 解析帯域幅:最大25 MHz
その他の特長
・ ライセンス・キーでアップグレード可能
・ 固定およびトランスポータブルライセンス利用可
・ SCPIリモート・ユーザ・インタフェース
関連資料ダウンロード
該当するカタログが無い場合もありますので、ご了承ください。
レビュー
レビュー投稿へのご協力をよろしくお願いいたします。