P9001A Massively Parallel Parametric Test System キーサイト・テクノロジー | 計測器

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Massively Parallel Parametric Test System

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形名：P9001A

キーサイト・テクノロジー半導体測定器 P9001A

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P9001A Massively Parallel Parametric Test System キーサイト・テクノロジー

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商品説明

・Notice for European Union Customers: A modified version of this non-RoHS compliant product has been made available to the European Union market, please contact your local Keysight Sales office for details.Keysight will maintain worldwide service and support of any P9001A test system throughout its support lifetime.
・The highest throughput parallel parametric test solution
・100-pin parallel measurement capability and faster single parameter measurement than Keysight 4080
・Good data correlation with Keysight 4080
・New per-pin parametric test unit module with all basic measurement function (voltage, current, capacitance, pulse, frequency)
・Easy development of parallel test plan
・Easy migration from 4080 environment
・Proven in 1st-tier logic foundries and memory companies