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- 販売開始
- 1900 年 1 月
- 販売状況
- メーカー製造終了
- 販売開始時参考価格
- -
- サポート状況
- サポート終了
商品説明
概要と特性
自動化
・JBERTビット・エラー・レート・テスタ用の統合型レシーバ・テスト校正自動化をオプションとして利用可能
・テスト・セットアップ・ウィザードにより、テストの選択、設定、接続、実行、結果レポートの手順をガイド
・測定接続セットアップを表示
・テスト結果レポートにテスト設定、実行された測定、合否ステータス、マージン解析、波形を表示、および、スイッチング・ソリューションによるマルチレーン・テストの自動化
対応規格
・PCI Express® 1.0/1.1/2.0/3.0に準拠したテスト
・SigTestを大幅に超えるさまざまな電気テストを実行可能
・1.0a/1.1/2.0解析用のSigTestと一貫性のある測定結果
・オプションのInfiniiSim波形変換ツールセットによる、テスト・フィクスチャとテスト・ケーブルのディエンベディングのサポート
要件
・PCI-SIG®に準拠したテスト・フィクスチャ
・シリアル・データ解析
・InfiniiSim波形変換ツールセット(オプション)
・PrecisionProbeオシロスコープ・プローブ/ケーブル補正ソフトウェア(オプション)
拡張性
・ユーザ定義アプリケーション・ツール(www.agilent.co.jp/find/uda)を使用可能
・カスタム・テスト、設定可能な変数、接続手順の作成と統合
・ラン・シーケンスへの、MATLABスクリプトやデバイス・コントローラなどの外部アプリケーション・コールの挿入
・テスト・スイートで使用される追加の外部測定器の設定
PCI Express電気的特性検証/コンプライアンス・ソフトウェアを使用すれば、PCI Expressのデザインの検証/デバッグを容易に行えます。このPCI Express電気テスト・ソフトウェアにより、PCI Expressの電気チェックリスト・テストを自動的に実行し、さまざまなレポート・フォーマットで結果を表示することができます。レポートには、測定データの他に、どの程度のマージンでデバイスが各テストに合格/不合格になったかを示すマージン解析も含まれています。PCI Express電気テスト・ソフトウェアには、トランスミッタが8 GT/sの場合にPCI Express 3.0 BASE仕様に準拠するかを検証するためのテストや新しい非相関ジッタ・テストが含まれています。また、指定されたディエンファシス・プリセットやアップデートされた基準クロック・テスト用に、ディエンファシス値やプリシュート値を計算することができます。
PCI Express電気テスト・ソフトウェアは、Qドメイン+デュアルDirac手法を利用して、PCI Express 2.0 Card Electromechanical仕様に準拠したジッタ分離を実現しています。これにより、Gen2測定は、PCI-SIGのスタンドアロンSigTestソフトウェアを使って実行した測定と完全に一致します。さらに、ソフトウェアでは、Gen1測定用に、公式のPCI-SIG信号品質テスト手法("SigTest")アプリケーションで使用されたクロック・リカバリ手法をオプションで利用できるので、テスト結果のSigTestアプリケーションの結果との一貫性が得られます。また、PCI Express 3.0測定用に、以下のPCIe 3.0固有のパラメータ*を計算するための新しいアルゴリズムを搭載しています。
・TXユニット・インターバル
・フル・スイングTX電圧(TxEQなし)
・フル・スイングでのEIEOS中の最小スイング
・TX非相関全ジッタ
・TX非相関デターミニスティック・ジッタ
・TX非相関パルス幅ジッタ
・TXデターミニスティックDjDD非相関パルス幅ジッタ
・TX擬似パッケージ損失
・TXEQプリセット用のディエンファシスおよびプリシュート測定
・TX DCコモン・モード電圧
・TX ACコモン・モード電圧:4 GHz、300 kHz~500 MHz
・DCコモン・モード電圧のTX絶対値差
・LOおよびアイドル中のDCコモン・モード電圧のTX絶対値差
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