パルスドIVパラメトリック・テストは、半導体プロセスの開発や半導体デバイスの評価で重要性を増しています。最近では、より高度なプロセスの開発により、非常に正確なパルスドIV測定の必要性が高まっています。このようなニーズに応えるために、Keysightは、業界で最も幅広いパルス幅、電圧/電流出力、性能を備えた、さまざまな種類のパルスドIVパラメトリック・テスト・ソリューションを提供しています。Keysight B1542A 10 nsパルスドIVパラメトリック・テスト・ソリューションは、10 ns～1 msのパルス幅を備えているので、高kゲート誘電体を使用したMOSFETや、SOIウェーハ上に製造されたMOSFETの特性評価に最適です。このパルスドIVソリューションを使用すれば、2 nsの立ち上がり/立ち下がり時間(業界最高速)で、オーバシュート/アンダーシュートも最小の10 nsのパルスを印加できます。
このソリューションは、ケーブル、アクセサリ、ソフトウェアで構成されます。サポートされているKeysightパルス・ジェネレータ/オシロスコープのいずれかをすでにお持ちの場合は、コストを低く抑えることができます。このソリューションは、Keysightパラメータ・アナライザまたはパラメトリック・ソリューション(B1500A、E5260A/E5270Bシリーズ、4155C、4156C、4155B、4156B)に組み込まれています。