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商品説明
不揮発性メモリ評価システムはフラッシュメモリやFeRAMなどの不揮発性メモリの評価試験を行うモニターバーンインシステムです。フラッシュメモリでは複雑なアルゴリズムを発生できるパターン発生機能とバッドブロック管理機能、Vth分布測定機能などにより、テスターでのテスト機能の移管が可能です。また、今後新しく開発される不揮発性メモリのテストに対応できるよう拡張性と柔軟性をコンセプトとし、不揮発性メモリの研究開発から量産までの試験、検査用の装置としてお役立て頂けます。
商品スペック
>>もっと見る【バリエーション】High/Low Temp. Chamber ×3
【作動温度】-55℃ ~ 150℃
【スロット】12
【帯域】12
【サイクルタイム/解像度】100nS~0.6mS / 10nS
【タイミング番号】30
【クロック周波数】16
【ストロボ】2
【クロック解像度】10nS
【PS1、PS2】0.8V~8.0V / 10A
【PS3 ~ PS5】1V~15V / 6A
【PS6】-1V~-15V / 6A
【出力精度】±(2%+50mV)
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