カテゴリーから探す
メーカーから探す
調達手段から探す
計測器名・型から探す
- 販売開始
- -
- 販売状況
- 販売中
- 販売開始時参考価格
- -
- サポート状況
- サポート中
商品説明
PVモジュールの出力低下を起こすPID現象高温高湿環境下でPID現象によるリーク電流を自動計測
太陽光発電システムに起きるPID(Potential Induced Degradation)現象とは、PVモジュールのフレームとモジュール回路に生じた大きな電位差によるリーク電流が引き起こす劣化現象です。PID現象は、太陽光発電システムの出力を低下させる要因の一つと考えられ、湿度によりその現象は促進すると言われています。
エスペックのPID評価システムは、このPID現象の評価を正確に実施するために、高精度・再現性に優れた高温高湿環境下で高圧電流を印加し、リーク電流を測定します。PVモジュールの劣化評価に欠かせないシステムです。
商品スペック
>>もっと見る【温湿度制御範】±1.5℃/±5%rh
【温湿度分布】-40℃ ~ +100℃/40% ~ 95%rh
【内法】W1200 × H1650 × D2000mm
【外法】W1720 × H2370 × D3300mm
関連資料ダウンロード
カタログ倉庫で関連資料の検索をお願いします。
該当するカタログが無い場合もありますので、ご了承ください。
該当するカタログが無い場合もありますので、ご了承ください。
レビュー
この商品には現在レビューがありません。
レビュー投稿へのご協力をよろしくお願いいたします。
レビュー投稿へのご協力をよろしくお願いいたします。