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FMS-4050 PID評価システム恒温恒湿槽 エスペック
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商品説明

PVモジュールの出力低下を起こすPID現象高温高湿環境下でPID現象によるリーク電流を自動計測
太陽光発電システムに起きるPID(Potential Induced Degradation)現象とは、PVモジュールのフレームとモジュール回路に生じた大きな電位差によるリーク電流が引き起こす劣化現象です。PID現象は、太陽光発電システムの出力を低下させる要因の一つと考えられ、湿度によりその現象は促進すると言われています。
エスペックのPID評価システムは、このPID現象の評価を正確に実施するために、高精度・再現性に優れた高温高湿環境下で高圧電流を印加し、リーク電流を測定します。PVモジュールの劣化評価に欠かせないシステムです。

商品スペック

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【温湿度制御範】±1.5℃/±5%rh
【温湿度分布】-40℃ ~ +100℃/40% ~ 95%rh
【内法】W1200 × H1650 × D2000mm
【外法】W1720 × H2370 × D3300mm

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