S94522B 任意負荷制御(ALC)デバイス特性評価アプリケーションは、アクティブ中の非線形デバイスの動作(任意負荷インピーダンス、入力パワー、DCバイアス)を補足する、高度でありながらシンプルな自動プロセスを提供します。
コンパクトモデル作成用に統合されたNVNAアクティブ・ロードプル・ソリューション
線形/非線形動作を示す2ポートのベアトランジスタ測定に最適
入出力ポートで同時にRFおよびDCバイアスのアクティブなソース制御が可能
Keysight DynaFETモデルを抽出するICCAPに大信号波形をパス
メモリ効果や負荷感度などのRFおよびDC動作を含むモデル
別途、大信号データを使用してユーザー独自のコンパクトモデルを作成可能
別途、大信号データを使用して既存のコンパクトモデルにフィット可能
S94522B 任意負荷制御(ALC)デバイス特性評価アプリケーションは、アクティブ中の非線形デバイスの動作(任意負荷インピーダンス、入力パワー、DCバイアス)を補足する、高度でありながらシンプルな自動プロセスを提供します。キーサイトのDynaFETコンパクトモデルの抽出に使用する場合は、測定済みのデバイスデータがオンウエハーⅢ‐Ⅴの半導体トランジスタ、GaN、GaAsのものである必要があります。CW RF入力信号により、オンウエハーパワーは5 W以下に制限されます。一般用途向けに、あらゆる2ポートデバイスで大信号波形を測定できます。NVNAが動作する"A"モデルのPNA-X上で使用できます。本アプリケーションは、ベアトランジスタのコンパクトモデリングに最適です。
高度に統合されたこのALCアプリケーションでは、NVNAソフトウェアと対話形式で、セットアップ、DC I/Vの選択、測定、解析を行うことができます。アプリケーションの各タブによって、プロセスがガイドされます。測定結果に基づいて調整を実行してから、DynaFETモデル、ユーザー定義モデル、コンパクトモデル最適化用ターゲットに抽出する最終的な大信号波形データファイルを保存できます。柔軟性を備えているので、非常に簡単なシステムから非常に複雑なシステムまで、ユーザーのシステムに簡単に統合できます。