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[カタログ] 絶縁劣化・特性評価テスタ SIR SIR13mini SIR13SLIM

絶縁信頼性測定システム

商品紹介

専用設計のSMU計測ボードにより、業界最高水準の精度でエレクトロケミカルマイグレーション・絶縁抵抗・絶縁特性評価の同時計測可能。
マルチチャネルでの絶縁信頼性測定が可能
全チャネル20msec間隔で測定/判定しているため経時的な絶縁劣化だけでなくエレクトロケミカルマイグレーションを漏らさず測定
最大印加電圧を250V/1kV/1.5kV/3kV/6kV/10kVから選択可能
チャネル数は8〜128ch
電圧印加用電源はチャネルごとに独立
Windowsアプリケーションにより簡単操作&データ管理
エタックは1994年、業界で初めてエレクトロケミカルマイグレーション現象を電気的に捉え、高温高湿度環境下での槽内測定が可能な「SIR10」を発表。
以来、バージョンアップを重ね2005年には「SIR13」へと進化しました。
さらに、2010年には最大10kVの高電圧が印加可能なHVシリーズをラインナップに加えました。これにより、今まで困難とされていた多CH同時での高耐圧試験も可能となりました。
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