概要 周波数応答解析(FRA)は、スイッチング電源のパッシブフィルター、増幅回路、負帰還回路(ループ応答)など、今日のさまざまな電子回路デザインの周波数応答(利得/位相対周波数)の特性の評価に用いられる重要な測定です。エンジニアは通常、この種の測定にはネットワーク・アナライザやスタンドアロンの低周波FRAを使用しますが、InfiniiVision 6000 Xシリーズ オシロスコープは、キーサイトのオシロスコープで初めて、自動周波数応答解析機能を搭載しました。この周波数ドメイン測定機能は、利得/位相対周波数測定(ボード線図プロット)により実現されています。FRAソフトウェアは、オシロスコープに内蔵されている波形発生器(WaveGen)を使用して、被試験回路をさまざまな周波数設定でシミュレートし、2つのオシロスコープチャネルを使って入力信号と出力信号を捕捉します。各テスト周波数で、オシロスコープは利得(20LogVout/Vin)と位相を測定、計算し、対数スケールでプロットします。
Keysight InfiniiVisionオシロスコープを使用した周波数応答テストの詳細については、DSOXT3FRA/DSOX4FRA/DSOX6FRAのデータシートをダウンロードして参照してください。