カタログ倉庫

[カタログ] HP 4062B 半導体パラメトリック・テスト・システム

半導体パラメトリック・テスト・システム

商品紹介

HP 4062B半導体パラメトリックス・テスト・システムは、半導体のデバイス開発やプロセス評価に必要な電圧、電流、容量などの基本特性をウェーハ上の試料で今までになく高精度で、しかも高速に測定するシステムです。
1回のプローピングで最大48ピンまでのデバイスのどのピンでも自在に切り換えられ、しかも徹底したノイズ対策とリーク電流の防止策が施されており、電流 1pA、電圧 1mV、容量1fFの高精度・高分解能を実現、微小な特性変化を確実にらえます。
この計測器の詳細情報を見る
プレミアム会員(無料)とメルマガ購読の登録が必要です。

カタログをダウンロードいただくには
プレミアム会員(無料)とメルマガ購読の登録が必要です。
【プレミアム会員の方】 ログイン後、プロフィール編集画面よりメルマガ購読欄を
「購読する」に変更をお願いします。
【メルマガ会員の方】 ログイン後、プレミアム会員への移行&メルマガ購読の
手続きをお願いします。
【非会員の方】 プレミアム会員への登録&メルマガ購読の手続きをお願いします。

MyAssets 計測器管理を、もっと簡単に、もっと便利に