高温高湿バイアス試験

(high temperature & humidity bias test)
高温高湿試験で、試験対象に電圧を印加することで電気的ストレスを与える試験。主に半導体デバイスなどの電子部品で行う。金属部位の腐食反応が促進されるため、短期的で長期的な使用環境をつくる。耐性(劣化の度合い)を実環境よりも短時間に評価できる。電子部品に通電することをバイアスと呼んでいる。つまり、高温・高湿(耐湿性試験) + 電圧印加(通電) の環境試験である。英語の頭文字から3文字を使い、THB(Temperature Humidity Bias)と呼称されることも多い。
高温高湿試験の1種である高加速寿命試験でも、試料に電圧を印加して通電状態にする場合もあるが、特別に「高加速寿命バイアス試験」とは呼ばない(以下の参考記事が詳しい)。