計測関連用語集

TechEyesOnlineの用語集です。
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誘電正接(ゆうでんせいせつ)

(Dissipation Factor) コンデンサなどの誘電体の損失を示す値。値が小さいほど性能が良い。リアクタンスとしての純度を表す指標といえる。記号「D」と表記される。定義がtanδ(タンジェント・デルタ)のため「タンデルタ」と呼ばれたり、「誘電体損」ともいわれる。「誘電体の正接(タンジェント)で定義される値」という意味。

誘電正接試験器(ゆうでんせいせつしけんき)

電気機器や電力ケーブルなどの誘電体損失(tanδ)を測定する機器。

誘電体損(ゆうでんたいそん)

コンデンサなどの誘電体の損失を示す値の俗称。正式名称は「誘電正接(Dissipation Factor)」。記号「D」で表記される。別名、tanδ(タンジェント・デルタ、略称「タンデルタ」)。

誘電率(ゆうでんりつ)

(permittivity) 【電子工学で使われる電気に関する量】 物質が電気を蓄えられる大きさ(分極のしやすさ)の指標。コンデンサや絶縁体の材料の性能評価に使われる。コンデンサの絶縁材は誘電率が高いほど適している(材料として優秀)。物質には固有の誘電率があり、外部から電場が与えられると、発生する電荷は誘電率が高いほど大きくなる。また損失(誘電体損、tanδ)も大きくなる。 誘電率は電荷に関係する係数で、電媒定数とも呼ばれる。記号はギリシャ文字のε(イプシロン)で表し、単位は[F/m](ファラッド/メータ、1mあたりの静電容量)。真空の誘電率はε0(イプシロン ゼロ)と表し、その値は約8.85×10-12[F/m]。εやε0は数学や物理の計算に時々現れる係数(定数)である。 誘電率の測定は、電極などの治具を使ってインピーダンス測定器(LCRメータなど)で行われる。

UUT(ゆーゆーてぃー)

(Unit Under Test)計測器の測定対象のユニットのこと。日本語では「被測定ユニット」、「被試験ユニット」。DUT(Device Under Test)やEUT(Equipment Under Test) とほぼ同義。

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