計測関連用語集

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誘電吸収比(ゆうでんきゅうしゅうひ)

(Dielectric Absorption Ratio) 略記:DAR。絶縁の時間経過試験という意味では成極指数(PI)と同じ方法。唯一の違いは、結果を得るための時間が短いこと。定義:誘電吸収比=(30秒〜1分後の絶縁抵抗値)/(15秒〜30秒後の絶縁抵抗値)。誘電吸収比による判定は、1.4以上:最良、1.25~1.0:良、1.0以下:不良。(共立電気計器株式会社の用語集より)

誘電体放電(ゆうでんたいほうでん)

略記:DD(Dielectric Discharge)。この試験は、多層絶縁の診断に適用される。測定終了1分後の放電電流値および測定物の容量値を測定することにより、多層からなる絶縁物中に不良がある場合の診断にすぐれた測定方法。定義:誘電体放電=(測定終了して1分後の電流値)/(測定終了時の電圧値xキャパシタンス)。誘電体放電による判定は、2.0以下:良、2.0~4.0:要注意、4.0~7.0:不良、7.0以上:非常に悪い。この判定基準は目安のため、経験に基づいた調整・変更が必要な可能性がある。欧州にて発電所の高圧発生機器を測定するために開発された測定方法。(共立電気計器株式会社の用語集より)

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