計測関連用語集

TechEyesOnlineの用語集です。
計測・測定に関連する用語全般が収録されており、初めて計測器を扱う方でも分かりやすく解説しています。
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標本化定理(ひょうほんかていり)

(sampling theorem) サンプリング定理の別名。連続信号(アナログ値)からデジタルデータを作成する標本化の際に、サンプリングする周波数(サンプルレート)について記述した定理。オシロスコープやFFTアナライザなどの多くのデジタル計測器に関連する法則で、計測器の利用者が知っておく基礎知識の1つ。 参考記事:デジタルオシロスコープの基礎と概要 (第2回)・・オシロスコープの重要な仕様の1つであるサンプリング周波数について解説。

ヒルベルト変換(ひるべるとへんかん)

(Hilbert Transform)実関数f(t)をヒルベルト変換してg(t)にすると、 f(t)のエンベロープを求められ、さらにそれから対数減衰率や減衰比を計算することができる。エンベロープはシステムの瞬時のエネルギーの時間変化を表す。またf(t)を単に振幅だけではなく、瞬時位相というもう一つのパラメータから観測することができる。(小野測器の「FFT解析に関する基礎用語集」より。詳しい数式は小野測器HPを参照。)

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