計測関連用語集 | TechEyesOnline

TechEyesOnlineの用語集です。
計測・測定に関連する用語全般が収録されており、初めて計測器を扱う方でも分かりやすく解説しています。
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よく検索される用語：分解能漏れ電流確度テレメータエリアシング

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物理量測定器

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OPIE（おーぴーあいいー）: (OPTICS & PHOTONICS International Exhibition) 光関連の専門展示会。毎年4月にパシフィコ横浜で開催。「レーザーEXPO」や「レンズ設計・製造展」(この2つで2024年の出展社の約80%)とその他展示会で構成。2024年のその他の展示会は次の5つ。光と画像のセンサ&イメージングEXPO、光源・光学素子EXPO、光通信・要素技術&応用EXPO、ポジショニングEXPO、宇宙・天文光学EXPO(出展社数の多い順)。当サイトは計測器が多く出展されるレーザーEXPOを中心に取材して展示会レポートを掲載。レンズ設計・製造展には富士フィルム(レーザー干渉計)やトプコン(輝度計)、光と画像のセンサ&イメージングEXPOにはアンリツ(光ファイバを使ったひずみ測定器と、波長掃引光源)、ケイエルブイ(ハイパースペクトルカメラ)、光通信・要素技術&応用EXPOにはキーサイト・テクノロジー(光部品の評価)、アルネアラボラトリ(光デバイス)などの出展実績がある。

#物理量測定器 #光学・視覚測定器 #光測定器