概要 B1525A高電圧半導体パルス・ジェネレータ・ユニット(HV-SPGU)は、高度な不揮発性メモリ (NVM)のテスト・ニーズによって提起された問題に対応するように設計されています。
±40 Vの出力機能、任意リニア波形発生(ALWG)機能、両方のチャネルで個別にサポートされている内蔵トライステート機能を備えたデュアル・チャネルHV-SPGUは、性能に優れ、以前のソリューションの15分の1以下に書き込み/消去サイクル・タイムを短縮できます。
ALWG機能により、複雑な波形も簡単に作成することができます。
また、それらの波形のシーケンス設定を、数十万サイクルにわたって簡単に行うことができます。
他のパルス・ソリューションをお探しの場合は、以下も参照してください。
・ KeysightパルスドIVパラメトリック・テスト・ソリューション セレクション・ガイド
・ B1530波形発生器/高速測定ユニット(WGFMU)
・ B1542A 10 nsパルスドIVパラメトリック・テスト・ソリューション
■主な特長と仕様
・ 不揮発性メモリの評価に適した高電圧出力(最大±40 V)
・ 各チャネルによる2レベル/3レベル・パルス機能のサポート
・ ALWG(任意リニア波形発生)機能による、10 nsの分解能での柔軟な任意波形の作成のサポート
・ 0.4 mVの分解能での高確度の電圧印加
・ 0.1 Hz～33 MHzの周波数レンジ
・ 最小5 μsの電圧モニタリング機能
・ モジュール当たり2チャネル