エレクトロニクスの開発・実装展のネプコン^※1 ジャパンとクルマの先端技術が一堂に集まるオートモーティブ ワールドが、2025年1月22日～24日に東京ビッグサイト東ホールで開催されました。7展で構成されるネプコン ジャパンから2社、8展で構成されるオートモーティブ ジャパンから1社の計測器・試験装置をTechEyesOnline取材班（TEO）が取り上げます。その他の8社の展示品を写真で紹介します。

モジュール計測器の老舗 ナショナルインスツルメンツ（NI）には、電源管理IC（PMIC）やエラーベクトル振幅（EVM）などを高速・高精度に評価するPXIシステムがあります。平山製作所は1970年代から高加速寿命試験（HAST）装置を製造・販売しています。高性能と高品質を安価に提供するリゴルは、エントリーからミドルクラスのオシロスコープを充実させています。3社の最新ソリューションや新製品を紹介します。

1. 日本ナショナルインスツルメンツ株式会社 PXIモジュール計測器
2. 株式会社平山製作所 高加速寿命試験装置（HAST装置） PC-R9 / PC-R9D
3. リゴルジャパン株式会社 8chオシロスコープ MHO/DHO5000、ポータブルオシロスコープ DHO800/900ほか

I/Oとソフトウェアが融合したモジュール計測器

瀬倉氏ナショナルインスツルメンツ（NI）のPXI^※2システムのプラットフォームを紹介します。LabVIEW^※3とハードウェアで、原則は構成されます。最近は自動車や半導体などで高度な計測やタクトタイム^※4を求める計測が増えているため、対応するI/Oモジュールなど、拡張性の高い製品群を用意しています。特長は3つあります。まず省スペースで、従来はラックに組み込んでいた計測器が4～18スロットの1つのシャーシ^※5に収まります。つぎに、必要なI/Oを選んでお客さまの需要に合ったカスタマイズができます。最後に、PXIはPCI Expressバスがベースですから、GP-IBやUSB通信に比べるとデータのスループット^※6が高く、効率や開発コストに寄与します。

TEO「パワーマネージメントICの検証ソリューション」から、まず説明してください

瀬倉氏タブレット端末だけでなく自動車の電動化など、機器の電源制御は重要です。電源ICの評価にはバイポーラ電源や電子負荷を何台もつなぐ必要があるので、多チャンネル計測が得意なPXIに向いています。高精度の電源、電子負荷、SMU^※7などのモジュールをPXIシャーシに実装したPMIC（Power Management IC、電源管理集積回路）の検証システムをデモしています。対象のPMICによって評価仕様は異なりますが、ソフトウェアで柔軟に対応します。高精度の試験品質を保ちながらテスト時間を短縮します。チャンネルが多いとデータ量が増えますが、その収集・管理の工程をあらかじめデザインできます。

PMIC検証ソリューション
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測定結果 I-Fグラフ
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複数チャンネルPMICのPXI構成例
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瀬倉氏PMICの計測に適したIPライブラリ^※8を使って測定し、レギュレータなどの電源ICの負荷電流-周波数特性を表示しています。

TEONIのPXIシステムを他社と比べたときの位置づけを教えてください

瀬倉氏生産と評価がNIの強みです。上流のR&Dでも使われていますが、一番需要があるのは多チャンネルで高速に評価する、量産での機能検査を早く行い生産コストを下げる、ことです。NI以外の海外計測器メーカもモジュール計測器があります。各社とも特定の領域で優れた仕様で、R&Dには向いていると思います。

TEOブースは萩原テクノソリューションズと共同出展ですね

瀬倉氏同社はお客さまのニーズに合ったソフトウェアをつくれるインテグレータで、自動車業界に知見があり、パワーICと計測器の接続など、ハードウェアの特性を生かした最適なインテグレーションをしています。お客さまのテスト手法を良く知っているNIのパートナーの1社です。

TEOつぎは無線通信ですね

瀬倉氏ベクトル信号トランシーバ（VST）による、Wi-Fi 7^※9のエラーベクトル振幅（EVM^※10）を評価するデモです。VSTはベクトル信号発生器とアナライザが一体になったユニークなモジュールです。PXIe-5842は50MHzから23GHzまでの連続する周波数レンジをカバーする初めてのVSTです。NIは2012年にVST初号器を発売し、第3世代のPXIe-5842は即時帯域幅が従来の倍（2GHz）で、EVMや平均ノイズ密度などの主要なRF性能が向上しました。

展示パネル
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PXIe-5842を使ったPXIシステム
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測定結果 subcarrier周波数のパワー
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TEO他社と比べた特長は何ですか？

瀬倉氏ハードウェアとして内部にFPGA^※11を搭載しています。たとえば通信プロトコルを評価したい場合、その要件をFPGAに書き込んでしまえば、ハードウェアタイミングでチェックができます。また、2台のVSTを使い、1台目から出した信号を2台目で受けて、同期をとって信号を比較すると、元の信号のノイズを高精度に評価できます。これらは他社にはできない、NI独自の機能です。PXIのスループットと同期性能が強みです。

TEO最後に「バッテリセル品質テスト」を説明してください

瀬倉氏始めのPMICで使っているSMU以外に、LCRメータやACIR^※12テスタなどのモジュールでインピーダンス測定を行います。今回も多chアプリケーションなのは同様ですが、標準的なNIのIPライブラリを活用して、ユーザが簡単に試験できることも利点です。今後バッテリの形状や材料が変化するとIPライブラリの更新がありえますが、将来にわたって柔軟にテスト構成を組んでいけると考えています。

バッテリセル品質テスト
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構成（製品カタログより）
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瀬倉 氏

TEONIに汎用計測の素地があるので製品化できたのでしょうか？

瀬倉氏要素技術はありますが、お客さまからテスト手法を学び、それを実現できるようなハードウェア/ソフトウェアを開発しました。NIの強みが生かせると判断して、ソリューション提案しています。バッテリテストは競合も多いですが、汎用性はありつつ、特定のアプリケーションにつくり込んでいます。

今回はPXIのハードウェアを中心に説明しましたが、特定の製品というより、ソフトウェアとハードウェアが融合しているユニークな計測器/試験装置とご理解ください。個々の製品にはそれぞれ競合がいますが、トータルにNIと競合するようなメーカはいないと思っています。

TEOありがとうございました