お知らせ

2022/02/09

Keithley オンライン・セミナ : 見逃した方必見 ~DC計測の基礎から半導体パラメトリック測定まで~ / Keithley【開催日:3月16日~17日】

主催会社 株式会社テクトロニクス/ケースレー
イベント名 Keithley オンライン・セミナ : 見逃した方必見~DC計測の基礎から半導体パラメトリック測定まで~
開催日時 3月16日 (水) ~3月17日 (木) 10:00 ~ 18:00
会場 オンラインセミナー
参加費 無料
内容 DC計測の基礎~半導体パラメトリック測定まで、Keithley Days2021をはじめ、昨年開催したWebセミナで特に人気の高かった8セッションをピックアップして再度お送りします。

【3月16日】
・ 不安や迷いを解消!最適なDC測定器の選び方
・ SiCとGaNコンポーネントに対しキーとなる5つのテスト
・ 恒温槽での信頼性試験と並列測定の手法
・ PLCによる計測器制御簡略化のヒント~通信・制御トラブルを最小限に

【3月17日】
・ 半導体パラメータ・アナライザの基礎Webセミナ
  ~半導体パラメータ・アナライザを用いた電気特性評価の基礎を学ぶ~
・ ケースレーの高電圧CV測定の総まとめ
・ 新時代こそ重要!材料評価のための信頼性評価試験ソリューション 
・ SMU 実機デモで比較解説 ー SMUのDC電源/電子負荷性能について

セッション詳細はこちら⇒
https://go2.tek.com/keithley-webinar-replay-agenda/

主催者の申込みページ こちら⇒ https://client.eventhub.jp/form/7ec52995-e700-44f4-80c5-5fc79bbee083/formprofile?isTicketSelected=true
対象 ・半導体や電子部品の検査、製造メーカ
・半導体や電子部品の検査機器メーカ
・半導体、素材、バイオ関連の研究所、大学
※半導体はダイオード、トランジスタ、MOSFETなど、電子部品はセンサ、DC-DCコンバータ、バッテリ、光学センサなど


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