お知らせ

2021/11/22

ロックインアンプの測定原理と使い方(中級編) /エヌエフ回路設計ブロック【開催日:12月9日】

主催会社 株式会社エヌエフ回路設計ブロック
イベント名 ロックインアンプの測定原理と使い方(中級編)
開催日時 12月9日(木)14:00 - 15:00(講演45分+質疑応答)
会場 オンラインセミナー(ウェブ会議システムZoomにて行います)
お問い合わせ 告知URL:こちら
参加費 無料
対象 ・当社ロックインアンプセミナ基本編を受講された方
・ロックインアンプの使用経験があり、さらに知識を深めたい方
内容 ロックインアンプは、微弱な信号を高精度に検出し、SN比のよい測定データを得られることから、分光分析などで広く使用されています。また、エヌエフのロックインアンプの位相検波や2位相2周波数測定の機能は、分光分析では比率測定や微分測定などに活用されています。本セミナーでは、分光分析を測定事例に取り上げ、各機能の詳細と使い方のコツをご紹介します。これらの機能は、半導体物性評価や走査型顕微鏡など様々な分野でも有用であり、参加者の皆様には新たな測定のヒントを得ていただけるよう、わかりやすく解説します。
内容
・分光分析と比率測定
・変調信号と微分測定
ご用意いただくもの 閲覧端末(PC、タブレット、スマートフォンなど)
インターネット回線、スピーカー、マイク


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